本章将专门介绍这些基本可靠性试验。

本章将专门介绍这些基本可靠性试验。
基础试验的重要性
电子元器件的常用可靠性试验。那些试验是为完成特定的目的而设置 的，它由一系列通用的基本试验单元——可靠性基础试验组成的，如第2章所述的例行试 验是由振动疲劳试验、冲击试验、离心力试验、卨低温温度试验、多余物检查试验等组成 的。我们把组成各种可靠性试验的最基本的试验叫做可靠性基础试验，如高温试验，振动 扫频试验等，它们是独立的试验，它们的不同组合可构成不同的可靠性试验，可组成第2 聿所述的电子元器件不同的常用可靠性试验。因此，可靠性基础试验的结果直接影响电 子元器件的可靠性试验的结果。所以，这些通用的可靠性基础试验是做好第2聿的电子 元器件常用的可靠性试验的重要保证。
另一方面，电子元器件研制过程中，往往必须经常独立做某些通用的可靠性基础试 验。如密封元器件必须做检漏试验、粒子噪声多余物检测试验等;车载产品必须做振动疲 劳试验、随机振动试验、扫频试验等;当然电子元器件的性能测试必须在一定环境下进行 一定的电学量的测量试验。所以这些通用的可靠性基础试验是电子元器件基本性能的主 要检测手段。因此必须熟练地掌握这些通用的可靠性基础试验。