电子元器件的可靠性基础试验

 
电子元器件的可靠性基础试验
概 述
可靠性试验的范围非常广泛。从广义上说，凡是与可靠性有关的试验都可以称为可 靠性试验。也可以说，为评价、分析电子元器件的可靠性而进行的试验称为电子元器件的 可靠性试验。可靠性试验的目的是考核电子元器件在运输、使用等情况下的可靠性。试 验条件必须是模拟电子元器件在运输、使用时的客观条件，它就是对受试样品施加一定的 应力，诸如电气应力、气候应力、机械应力或其综合，在这些应力的作用下，受试样品反映 出其性能是否稳定，其结构状态是否完整或是否有变形，从而判别其产品是否失效。第2 章介绍的电子元器件常用的可靠性试验是为完成特定的试验目的而进行的一整套试验。 当时我们的重点在于介绍这一整套试验，对于这套试验中的各个具体试验没有详细介绍。
组成各种可靠性试验的最基本的试验叫做可靠性基础试验，如高温试验，振动扫频试 验等，它们是独立的试验，它们的不同组合便构成不同的可靠性试验。