光纤数值孔径测试实验仪GCGXNA-B

一、产品简介
GCGXNA-B型光纤数值孔径测试实验仪通过对光纤的数值孔径进行测量，熟悉光纤的结构特点及光纤数值孔径的定义，掌握数值孔径的测量原理，熟悉光路调整方法。
本实验仪还可以通过增加选配器件，完成反射式和对射式光纤位移传感器实验，重点研究光纤位移传感器的工作原理及其应用电路设计。
 
二、教学目的
1、了解并熟悉光纤的结构特点及光纤数值孔径的定义
2、了解并掌握用远场法测量光纤数值孔径的方法
3、了解并掌握光纤位移传感器测量位移的原理及方法（需要选配件）
 
三、仪器功能
1、光纤位移光学系统组装调试实验
2、发光二极管驱动及探测器接收实验
3、光纤位移传感器输出信号处理实验
4、光纤位移传感器输出信号误差补偿实验
5、光纤位移传感器测距原理实验
6、利用反射式光纤位移传感器测量出光强随位移变化的函数关系
7、利用对射式光纤位移传感器测量出光强随位移变化的函数关系
8、光纤数值孔径测量实验
9、实验误差测量
 
四、实验配置
数值孔径测试实验仪、对射式光纤、准三维平移台、实验讲义、测试报告等